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    详谈金属化膜电容器发热来源

    发布者:深铭易购     发布时间:2019-08-20    浏览量:179

    电容器由金属部分和非金属部分组成,于是讨论发热的来源也从这两方面来入手,本文详细介绍金属化膜电容器的发热来源,一起跟小编了解下吧!

    ①金属化膜电容器部分的损耗

    电容器的金属化极板、电容器中的内部金属导线、电容器元件端部的喷金层、导线连接头或者焊点、金属引出线等等金属部分,都具有一定的电阻,这些电阻产生一个与金属化膜电容器串联的附加电阻r,称为电容器的串联等效电阻。电容器的串联等效图示如下图:

     

    由于这个串联等效电阻r的存在,使金属化膜电容器产生了损耗,相应的称为极板电阻损耗金属导线损耗、喷金层接触电阻损耗、焊合点接触电阻损耗、金属引出线损耗等等。这些损耗统称为金属损耗。

    ②介质损耗

    在电压作用下,介质中发生一种把部分电能变成热的物理现象,称为介质损耗介质损耗主要分为电导损耗和极化损耗。电导损耗:由于介质都存在一定的电导,施加电压后必定产生一个传导电流。良好的电介质中,传导电流很小,绝缘电阻很高,顾电导损耗很小。倘若制造工艺粗糙或者不严格,电容器中有水分或者其它杂质存在,会使绝缘电阻下降,电导损耗增加。电介质的电导金属化膜电容模型如下

     

    极化损耗:在交流电压下,介质将受到交变的极化作用,电子、离子、偶极子或者其它极性基团将反复位移,这些质点的移动要克服热运动的阻力,因此会消耗一部分电能并且使电能转化为热。极化损耗与极化方式、温度、电场频率等密切有关。电介质极性越强极化损耗越大。综上所述,金属化膜电容器的等效电路模型可表示为电导电容模型加上串联电阻的形式,如下图所示:

     

    ③局部放电造成的损耗

    金属化膜电容器施加较高的电压时,若介质层间有残存的徽小空气隙,由于空气的耐电强度较低,空气隙就会产生电离,造成局部放电。另外,由于电容器极板边缘电场集中,场强比极板间的均匀场强高,电容器边缘也容易产生局部放电。由于局部放电消耗有功功率,因此也会产生损耗发热。并且局部放电伴随产生的臭氧、氮氧化物等气体使介质遭到化学腐蚀,介电性能下降,以至于逐渐老化击穿。

     

    金属化膜电容器发热的原因可由以上情况造成,大家在使用的时候要注意清楚。如您有技术上的疑问可联系我们,竭力为您解决问题。东莞市深铭易购电子制造安规电容,陶瓷电容,独石电容,压敏电阻,薄膜电容。以上资讯来自东莞市深铭易购电子有限公司研发部提供,更多资讯请大家移步至网站中深铭易购资讯中获取。

     

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