电子元器件是有使用寿命的，电子元器件的使用寿命除了与它自身的结构特征、性质相关，也和它的应用环境、在电路中所起功用息息相关。

  在控制电路中电子元器件有强弱之分，电子元件抵抗力排名榜如下所示（从左到右依次递减）：电阻器、电感器，电容器、集成电路工艺(涉及二极管、三极管、场管、集成电路芯片)，总的来说，在一样的工作先决条件下，集成电路工艺受损概率最高。

  在查找故障零件时要择优检验二极管、三极管、场管、集成电路芯片等，一般集成电路工艺受损时以击穿为常态，数字万用表二极管蜂鸣档测这些电子元器件的任意两脚，最少也应当一个PN

  在控制电路中，工作在大电压、大电流、大功率情况下的电子零配件（控制电路的核心零件、多功能性零件）不容置疑经受的压力也大，毁坏的概率也就大。

  凡在大电流量的地方发热就大(焦耳定律——熱量与电流量的平方正相关)，因此往往加有散热器的零件都是易损件。大功率的电阻器也是易损件。大功率的电阻器怎么才能看出来？和它的阻值不相干，只和它的体积相关，体积越大，输出功率越大。在控制电路中，保险丝、保险电阻是最不保险的电子零件，首先是因为它的熔点低，更易断，又因为它是保他人的保险，冲到第一线，当警卫员，所以“死”的最早。

  电气元件毁坏的形式，有过压受损、过流毁坏，当然还有机械毁损。过压受损如遭雷击，击穿桥式整流管。过流毁坏如显示器行管热击穿。

  过压受损的电子元件外表看不出非常明显的变化，仅仅是基本参数全发生变化。过流毁坏的电子元件表面温度很高，有开裂、掉色、小坑等显著转变。情况严重时电子器件周围的pcb线路板变黄、发黑.

  集成电路芯片内部结构复杂，功用很多，任何一部分毁坏都没法正常工作。集成电路芯片的毁坏也有两种：彻底受损、热稳定性欠佳。完全受损时，可将其取下，与正常同型号集成电路芯片比照测其每一引脚对地的正、反向阻值，总能找出其中一支或几只引脚阻值出现异常。对耐热性差的，可以在设备工作中时，用无水酒精急冷被猜疑的集成电路芯片，假如机械故障发生时间延迟或不再发生机械故障，即可判断。一般只能拆换新集成电路芯片来排除。

  不论是自然损耗所出现的系统故障，还是人为因素受损所出现的故障，一般可看作控制电路接点开路，电子零件受损和软件故障三种常见故障。接点开路，如果是导线的断裂，拨插件的断开，接触不良等，检修起来通常较为容易。而电子零件的受损，（除显著的烧坏，发烫外），一般很难凭观察员察觉，在许多情况下，必需依靠检测仪器才能检验判定，因此对于专业人员而言，首要必须掌握各种各样电子元器件实效的特性，这对于检修控制电路系统故障，加强检修效率是极为重要的。