怎样判断芯片的好坏,芯片测量好坏方法

发布者:深铭易购     发布时间:2019-10-25    浏览量:22523

芯片缩写作 IC;或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备,也包括被动组件等)小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。在日常电路维修工作中如何准确判断电路中电源IC芯片的好坏,是修理电视、音响、录像设备的一个重要工作内容,如果判断不准确,不但花费了大量的精力,重点是集成电路中的故障依然存在,所以要对集成电路作出正确判断,是每个维修者的必修之课。


测量芯片好坏方法

方法1、真实性检验(AIR)

概述:通过化学腐蚀及物理显微观察等方法,来检验鉴定器件是否为原半导体厂商的器件。

方法2、直流特性参数测试 (DCCT)

概述:通过专用的IC测试机台来测量记录器件的直流特性参数,并比较分析器件的性能参数,又称静态度测试法。 

方法3、关键功能检测验证 (KFR)

概述:根据原厂器件产品的说明或应用笔记(范例),或者终端客户的应用电路,评估设计出可行性专用测试电路,通过外围电路或端口,施加相应的有效激励(信号源)给输入PIN脚,再通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等,使用通用的测量仪器或指示形式,来检测验证器件的主要功能是否正常。

方法4、全部功能及特性参数测试 (FFCT)

概述: 根据原厂提供的测试向量或自己仿真编写(比较艰难的过程)的测试向量,使用IC测试机台来测试验证器件的直流特性参数、器件的所有功能或工作运行的状态,但不包括AC参数特性的验证分析。换句话说,完全囊括了级别II和级别III的测试项目。

  方法5、交流参数测试及分析 (ACCT) 

概述: 在顺利完成了级别V之后,且所有的测试项目都符合标准,为了进一步验证器件信号传输的特性参数,及边沿特性、而进行AC参数的测试。


用万用表测量芯片的好坏

一、如果坏的话最常见的也是击穿损坏,你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压,一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低,大部分可以视为击穿损坏了,可以断开供电端,单独测量一下供电是否正常。如果测得的电阻较大,那很可能是其他端口损坏,也可以逐一测量一下其他端口。看是否有对地短路的端口。

二、专门具有检测IC的仪器,万用表没有这个能力。一般使用万用表都是检测使用时的引脚电压做大约的判断,没有可靠性。并且是在对于这款IC极其熟悉条件下做判断。



   如何判定集成电路中电源IC芯片是否正常

1.首先要掌握该电路中IC的用途、内部结构原理、主要电特性等,必要时还要分析内部电原理图。除了这些,如果再有各引脚对地直流电压、波形、对地正反向直流电阻值,那么,对检查前判断提供了更有利条件。


2.然后按故障现象判断其部位,再按部位查找故障元件。有时需要多种判断方法去证明该器件是否确属损坏。


3.一般对电路中IC的检查判断方法有两种:一是不在线判断,即电路中IC未焊入印刷电路板的判断。这种方法在没有专用仪器设备的情况下,要确定该电路中IC的质量好坏是很困难的,一般情况下可用直流电阻法测量各引脚对应于接地脚间的正反向电阻值,并和完好集成电路进行比较,也可以采用替换法把可疑的集成电路插到正常设备同型号集成电路的位置上来确定其好坏。当然有条件可利用集成电路测试仪对主要参数进行定量检验,这样使用就更有保证。


4.还有在线检查判断,即集成电路连接在印刷电路板上的判断方法。在线判断是检修集成电路在电视、音响、录像设备中最实用的方法。


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